檢驗設備

公司設有專業的品質管理部門，不僅進行基本的尺寸檢驗，更導入「長度實驗室」的理念，建立一套系統化、可追溯且科學化的量測流程。

我們擁有德國蔡司三次元量測儀（CMM）、Micro-Vu 自動光學影像量測系統、自動投影儀、三豐表面粗糙度儀等先進設備，確保能針對高精度、高複雜度的零件進行全面的尺寸與幾何特性分析。我們的量測程序符合ISO相關標準，並定期對量測儀器進行校正與溫濕度環境控管，以追求量測結果的準確性與一致性。

我們的理念是讓「量測」成為製程的一部分，而非事後的檢查；從加工前的圖面解析、治具設計，到製程控制與最終檢驗，我們將品保管理做為整個製造流程的核心，致力於提供超越客戶期待的品質穩定性。

我們的設備

德國ZEISS

接觸式三次元量測儀
詳細規格

美國Micro Vu

影像式量測儀
詳細規格

日本Mitutoyo
表面粗糙儀
詳細規格

日本Future-Tech
數位型洛式硬度計

詳細規格

洺鈦Mimn Taiy

2.5D影像量測儀
詳細規格

瑞士Sylvac
數位式三點內徑分厘卡

日本Mitutoyo
三點式內徑側微器

日本Mitutoyo
數位式指示量錶

日本Mitutoyo
數位式外徑側微器

美國Vermont
連號塞規

日本EISEN

連號塞規

KKS、KGS
栓牙規、環牙規

特殊設備規格

德國ZEISS接觸式三次元量測儀

SPECTRUM plus 7106 RDS VAST XXT
設備規格	量測範圍： X= 700 mm　 \|　Y= 1000 mm　\|　Z= 600 mm 量測精度：1.9+L/250μm 光學尺解析度： 0.2μm
設備軟體	CALYPSO 曲線分析軟體曲面分析軟體 CAD interface: SAT, STEP, IGS

CONTURA G2 776 RDS VAST XXT
設備規格	量測範圍： X= 700 mm　 \|　Y=700 mm　\|　Z= 600 mm 量測精度：1.7+L/350μm 光學尺解析度： 0.2μm
設備軟體	CALYPSO 曲線分析軟體曲面分析軟體 CAD interface: SAT, STEP, IGS

美國Micro Vu影像式量測儀

VERTEX 341
設備規格	測量行程：X=315 mm　\|　Y=315 mm　\|　Z=160 mm 軸精度：XY=2.0+L/200μm　\|　Z：2.0+L/150μm 光學尺解析度：0.1μm 承載重量：20 kg 無段變倍鏡頭：20x~623x
設備軟體	InSpec CAD interface: DXF

VERTEX 420
設備規格	測量行程：X=300 mm　\|　Y=300 mm　\|　Z=150 mm 軸精度：XY=2.6+L/175μm　\|　Z=3.0+L/150μm 光學尺解析度：0.4μm 承載重量：20 kg
設備軟體	InSpec CAD interface: DXF

日本Mitutoyo表面粗糙儀

SJ-411
設備規格	測量行程：X=25mm　\|　Z=800μm 解析度：0.000125μm 測定力：0.75mN 滑座曲率半徑：40mm

SJ-410
設備規格	測量行程：X=25mm　\|　Z=800μm 解析度：0.0001μm 測定力：0.75mN 滑座曲率半徑：40mm

洺鈦Mimn Taiy 2.5D影像量測儀

MTC 2.5D 影像量測儀
設備規格	量測行程：X=400mm　\|　Y=300mm　\|　Z=150mm 精度：0.001mm

美國Vermont連號塞規

MTC 2.5D 影像量測儀
設備規格	精度：0.01mm 量測範圍：0.20~9.99mm

日本EISEN連號塞規

MTC 2.5D 影像量測儀
設備規格	精度：0.01mm 量測範圍：10.00~12.50mm